股票代碼

300283

菜單
菜單

日本一卡二卡不卡视频查询,日本一卡二卡手机2021,日本一卡精品视频免费,日本一区二区三区精品福利视频,日本一区二区三区免费在线观看

技術(shù)研發(fā)
浙江省宏豐功能性復合材料
重點(diǎn)企業(yè)研究院
CNAS國家認可實(shí)驗室

CNAS國家認可實(shí)驗室由公司檢測中心發(fā)展而來(lái),檢測中心1997年成立,2012年擴建,2014年獲得由中國合格評定國家認可委員會(huì )頒發(fā)的ISO/IEC 17025體系認可證書(shū)。


公司CNAS國家認可實(shí)驗室是國內同行中檢測設施完善的材料測試基地,為公司材料研發(fā)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、材料應用研究和產(chǎn)品失效分析提供一站式的檢測和試驗解決方案。目前已形成了計量校準、化學(xué)成分分析、組織結構分析、物理機械性能檢測和電氣性能試驗等一套完整的材料檢測試驗體系。同時(shí),實(shí)驗室在各個(gè)專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域都配置專(zhuān)業(yè)的技術(shù)和管理人員,以及業(yè)內領(lǐng)先的分析試驗儀器設備。


公司CNAS國家認可實(shí)驗室自建立以來(lái),檢管理逐步完善,檢測能力不斷提升,形成了完整有效的質(zhì)量管理體系,以規范的行為、過(guò)硬的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)贏(yíng)得客戶(hù)贊譽(yù)。

掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
查看項目成果

GeminiSEM 300掃描電子顯微鏡能同時(shí)進(jìn)行Inlens二次電子成像和背散射電子成像,分辨率可達0.7nm,可實(shí)現快速,高質(zhì)量,無(wú)畸變的大范圍成像和亞納米分辨成像。配備100mm2窗口EDS探測器,能夠快速完成點(diǎn)、線(xiàn)、面元素的定量測定;EBSD探測器,采集無(wú)畸變、百萬(wàn)像素分辨率的花樣,用于精細的應變和相分析。

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
查看項目成果

電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀具備垂直雙觀(guān)測結構(DSOI),提升了靈敏度,同時(shí)降低了樣品基體效應。優(yōu)異的ORCA光路結構,可同時(shí)讀取130-770nm譜線(xiàn)信號,和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學(xué)系統相比,光強度信號提升可高達5倍,紫外/遠紫外區的靈敏度提高無(wú)與倫比。


直讀光譜儀
直讀光譜儀
直讀光譜儀

SPECTROLAB S 擁有世界上第一個(gè)基于CMOS的探測器的記錄系統,該系統非常適合于高端金屬分析。從微量元素到多基體應用,它提供了極其快速、高度準確、異常靈活的技術(shù)選擇。


原子吸收光譜儀
原子吸收光譜儀
原子吸收光譜儀

novAA 800F采用集成的8燈座,具有編碼燈識別功能,氘空心陰極燈背景校正,經(jīng)驗證的單、雙光束模式和發(fā)射模式,以及最新的SiOSens半導體固態(tài)檢測器。 豐富智能的配件,最大程度地提高了檢測效率,極佳的安全性和分析程序的用戶(hù)友好性,適合高效常規分析。


萬(wàn)能材料試驗機
萬(wàn)能材料試驗機
萬(wàn)能材料試驗機
萬(wàn)能材料試驗機
查看項目成果

68TM-30型萬(wàn)能材料試驗機搭載的30kN和1kN載荷傳感器在0.1~100%范圍內精度可達0.5級。整個(gè)試驗系統可以進(jìn)行集成化數據閉環(huán)控制和采集、傳感器的自動(dòng)識別和標定。配備的高精度非接觸式視頻引伸計AVE2分辨率為0.5微米,有正交極化照明系統和CDAT風(fēng)扇專(zhuān)利可消除人員、照明、氣流對實(shí)驗結果的影響,得到可重復性高準確的應變測量結果。


3D輪廓儀
3D輪廓儀
3D輪廓儀
3D輪廓儀
查看項目成果

VR-5200 3D輪廓儀投射條紋狀結構光,通過(guò)高精細CMOS傳感器使光線(xiàn)成像,測量出各點(diǎn)的高度和位置。配備的低倍鏡頭使測量區域大至200×100×50 mm,高倍鏡頭使顯示分辨率小至0.1μm,可實(shí)現非接觸批量化測量產(chǎn)品形狀,起伏,粗糙度。


圖像尺寸測量?jì)x
圖像尺寸測量?jì)x
圖像尺寸測量?jì)x
圖像尺寸測量?jì)x
查看項目成果

IM-8020采用了雙遠心鏡頭,擁有出眾的邊緣檢測能力,可實(shí)現一鍵測量具有不同高度差的樣品尺寸,憑借2000 萬(wàn)像素CMOS和邊緣檢測新算法,檢測性能是傳統機型的3 倍, 測量區域可達300mm × 200mm,測量速度是傳統機型的2 倍. 只需數秒即可測量完最多300 個(gè)部位。能快速、正確、簡(jiǎn)單的測量,大幅度提高測量精度,縮短測量時(shí)間和人為誤差。


激光粒度儀
激光粒度儀
激光粒度儀
激光粒度儀
查看項目成果

HELOS/BR型激光粒度儀配置了RODOS干法分散系統,能有效的分散粉體,滿(mǎn)足特殊粒度檢測要求,實(shí)現了快速且高重復性的粒度分析。測量范圍:0.3~175μm,測量相對精度:<0.3%。


同步熱分析儀
同步熱分析儀
同步熱分析儀
同步熱分析儀
查看項目成果

STA 449 F3具有堅固、靈活、易于操作的特點(diǎn),非常適合同時(shí)測試熱效應和質(zhì)量的變化,綜合了高性能熱流型DSC和超高靈敏度天平,可以提供極致的稱(chēng)重與測量范圍。


檢測標準
電觸頭材料密度的測定-L-WZHF-TC10-003-r2-1

范圍

本標準規定了電觸頭材料密度的測定方法。

本標準適用于各種電觸頭材料的密度的測量。

探索更多
電觸頭材料體積電阻率的測定-L-WZHF-TC10-002-r2-1

范圍

本標準規定了電觸頭材料體積電阻率的測定方法。

本標準適用于各種電觸頭材料的體積電阻率的測量。

探索更多
電觸頭材料中銀含量的測定-L-WZHF-TC10-001-r3-1

范圍

本標準規定了電觸頭材料中銀含量的測定方法。

硫氰酸鹽容量法適用非熔滲法制造的電觸頭材料銀含量的測定。測定范圍:

5.00%~99.00%。

碘量法適用于熔滲法制造的銀鎢、銀碳化鎢電觸頭材料中銀含量的測定。測定范圍:

25.00%~85.00%。

探索更多
低壓電器試驗站

公司低壓電器實(shí)驗站成立于2013年,通過(guò)模擬材料的實(shí)際應用場(chǎng)景研究其應用特性,為新項目進(jìn)行前期摸底試驗,為新材料提供前瞻性的產(chǎn)品適用性研究。


通過(guò)多年不斷發(fā)展,已形成了較完整的低壓電器試驗能力,可做接觸器、斷路器、繼電器、保護器等的電壽命、溫升、短路等項目。

低壓電器試驗能力
保護器試驗能力
請在1分鐘之間支付
您如需查看文件請填寫(xiě)信息
提交信息后,工作人員會(huì )盡快安排,請確保信息完整和真實(shí)性 。
* 姓名
* 聯(lián)系方式
公司名稱(chēng)
公司地址
* E-mail
* 驗證碼
支付成功
請立即下載文件,此次支付限當次下載,關(guān)閉窗口后將無(wú)法下載。
若下載異常請聯(lián)系:0577-85515910
立即下載
日本一卡二卡不卡视频查询,日本一卡二卡手机2021,日本一卡精品视频免费,日本一区二区三区精品福利视频,日本一区二区三区免费在线观看